يستخدم الميكروسكوب الماسح الإلكتروني Scanning Electron (Microscope (SEM في تحليل وتعيين خواص أسطح العينات السميكة أو الرقيقة من المادة ومعرفة شكلها – مورفولوجية Morphology – والقيام بتحديد مقاييس أبعادها الخارجية. ويتيح هذا الميكروسكوب قوة تكبير تتراوح عادة بين عشر مرات ونصف مليون مرة، وفقا لنوع الجهاز المستخدم، ودقته، وخبرة المستخدم لهذا الجهاز. ومن خلال بعض الإضافات، يتمكن هذا الميكروسكوب من تحديد العناصر الداخلة في تركيب العينة ونسبتها بدقة جيدة.

ويعرض الشكل (6 – 14) صورة لأحد أنواع تلك الميكروسكوبات موضحا عليه شرحا لأجزائه الرئيسية، بينما يبين الشكل (6 – 15) صورة مورفولوجية لإحدى عينات المؤلف التي تم اختبارها بهدف اختبار بنيتها الظاهرة في الصورة على هيئة طبقات مختلفة السمك. وتعد هذه الصورة، بمنزلة مثال من أمثلة عديدة، يوضح لنا ما يمكن أن نحصل عليه من معلومات خاصة بالعينات المختبرة بواسطة هذا الجهاز.

الشكل (6 – 14): صورة فوتوغرافية لأحد أنواع الميكروسكوبات الماسحة الإلكترونية الشائعة الاستخدام، الذي استخدمه المؤلف خلال عمله في جامعة طوهوكو اليابانية. رسم تخطيطي للجهاز، موضحا عليه شرح لمكوناته ⁽⁸⁾.

الشكل (6 – 15): صورة مورفولوجية لإحدى عينات المؤلف، تم اختبارها بواسطة الميكروسكوب الماسح الإلكتروني ⁽¹⁶⁾.

_______________________________________________________________________
هوامش

(8) تم تصميم وتنفيذ الشكل بواسطة مؤلف هذا الكتاب.

(16) M. Sherif El–Eskandarany, Wei Zhang, and A. Inoue, J. Mater. Res., Vol. 17 (2002) pp. 2447–2456.